低コヒーレンス干渉による光パルスの遅延時間計測

コヒーレンスは光波の可干渉性の度合いを示す尺度ですが、コヒーレンスの低い光源を用いて干渉計を構成すれば、測定対象物内の光反射点を小さな分解能で特定することができます。この方法を時間領域パルスに応用し、かつ、デジタルホログラフィ技術と融合することで、光ファイバ内の複数コアのパルス遅延時間を一括計測することが可能になります。この研究プロジェクトでは、MDM通信において世界のトップデータを有するKDDI研究所との共同研究を進め、マルチコアファイバにおける複数コアでの遅延時間一括計測に成功しています。